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Nature:硼酸功能化SAM 解决NiOx腐蚀/接口不均

发表时间:2025/7/16 14:39:48

研究困难与挑战

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宽能隙 (WBG) 子电池中,作为空穴传输层的氧化镍 (NiOx) 与自组装单分子层 (SAMs) 之间的接口接触问题,严重限制了器件的效率和稳定性。

现有技术存在以下主要挑战:

NiOx腐蚀问题:传统上广泛使用的SAMs,例如含有磷酸(PA)作为锚定基团的 SAMs (PA-SAMs),其酸性较强,容易腐蚀具有化学反应性的NiOx层,会损害NiOx层的完整性和功能,进而削弱器件的稳定性。

SAM分子聚集与接口问题 传统SAMs分子在NiOx表面容易发生聚集现象,不均匀的成膜会导致接口损失影响载流子传输效率,并造成显着的开路电压(VOC)损失。


研究团队与成就

这篇对于高效能全钙钛矿迭层太阳能电池的突破性研究,由中国科学院宁波材料技术与工程研究所葛子义和刘畅团队领导,发表在国际顶尖科学期刊Nature Communications

研究团队成功开发了酸性较弱的硼酸功能化SAM,不仅有效抑制了对NiOx的腐蚀,还能形成更均匀、结合力更强的接口层,显着提升了全钙钛矿迭层太阳能电池的效率,并大幅增强了器件的长期运行稳定性。

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S6:解决的原始问题(腐蚀)


研究的核心成就包含:

解决NiOx腐蚀问题:成功开发酸性较弱的自组装单分子层 (SAMs),显着降低对氧化镍(NiOx)空穴传输层的腐蚀,提升接口稳定性。

改善 SAM 成膜质量:新型SAM展现出更强的接口结合力与更均匀的成膜特性,有效克服传统SAM分子易聚集、覆盖不均的问题,降低接口损失

优化钙钛矿薄膜品质:改良后的接口促进钙钛矿晶体更均匀生长,减少缺陷,并有效抑制光照引起的相分离,提升薄膜质量与稳定性。

显着提升器件效率:单结宽能隙 (WBG) 子电池效率由 18.9% 提升至 20.1%;全钙钛矿迭层太阳能电池 (TSCs) 效率更达到 28.5%

大幅增强运行稳定性:研究成果大幅提高了器件的稳定性,全钙钛矿迭层电池在连续光照 500 小时后仍能保持初始效率的 90%

实验步骤与过程

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制备界面材料与薄膜:研究团队制备多种自组装单分子层(SAMs)材料,并在ITO导电玻璃上依序沉积NiOx层与SAMs,形成ITO/NiOx/SAMs薄膜结构。同时制备传统SAM材料(Me-4PACz)作为对照组。部分样品制备后以乙醇旋涂清洗,去除残留分子。

制作单结宽能隙太阳能电池:以制备的ITO/NiOx/SAM薄膜作为空穴传输层,旋涂沉积宽能隙钙钛矿薄膜,再依序沉积电子传输层(C60ALD SnO2)和银电极,完成单结宽能隙电池制作。

制作全钙钛矿迭层太阳能电池:将宽能隙子电池与窄能隙钙钛矿子电池整合,构建双端全钙钛矿迭层太阳能电池。完整结构为:ITO/NiOx/SAM/宽能隙钙钛矿/C60/SnO2/Au/PEDOT:PSS/窄能隙钙钛矿/C60/BCP/Ag

评估电池效能:在标准测试条件(1 sun, 100 mW/cm2)下,测量单结和迭层电池的电流-电压特性,评估光电转换效率、开路电压、短路电流密度及填充因子等关键参数。同步进行稳态功率输出追踪和外部量子效率量测。

进行稳定性测试:对封装后的迭层电池进行最大功率点连续光照追踪测试,持续500小时以评估长期运行稳定性。另外进行85高温光照老化测试,验证电池的热稳定性能。


表征手法与结果

准费米能阶分裂 (QFLS)

衡量材料在光照下最大理论开路电压 (iVOC) 的指标,直接反映非辐射复合损失的程度。研究发现,与纯钙钛矿薄膜的QFLS相比,接触传统Me-4PACz接口的钙钛矿QFLS显着降低至 1.296 eV,表明严重的接口复合。使用新型S-BA-SAM处理后, QFLS 仅从1.326 eV轻微降低至1.322 eV,接近纯薄膜值,如5f。直接证明S-BA-SAM大幅减少了 NiOx/钙钛矿界面的非辐射复合损失

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电流-电压 (J-V) 特性与稳态功率输出(SPO)测试

量测太阳能电池在标准光照下的光电转换性能,并评估器件的稳定性。进行标准 J-V 测试需使用符合 AM1.5G 光谱标准的太阳光模拟器。EnlitechSS-X 系列太阳光模拟器在多篇文献中被引用,提供高度精确且稳定的光照。

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6c展示了子电池及最终迭层电池的 J-V 曲线。经过新型 S-BA-SAM 优化后,宽能隙 (WBG) 子电池效率从对照组的 18.9% 提升至 20.1%。最终组装的全钙钛矿迭层电池实现了最高 28.5% 的效率。

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6d的稳态功率输出曲线显示,器件在连续 1 sun 光照追踪 500 小时后,仍能保持初始效率的 90%,展现出优异的长期稳定性。


外量子效率 (EQE)

研究团队使用了 Enlitech REPS 量测仪器进行了 EQE量测,量测器件在不同波长光照下产生电流的效率,用于分析器件对不同光谱的响应并计算理论短路电流密度 (JSC),与 J-V 测试结果相互验证。

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6e呈现了全钙钛矿迭层电池的 EQE 谱线,显示了宽能隙子电池在短波长区域(约 300-750 nm)和窄能隙 (NBG) 子电池在长波长区域(约 650-900 nm)的有效量子效率。从 EQE 积分计算得到的子电池 JSC (16.0 16.2 mA cm-2) J-V 测试结果吻合良好,证实了性能数据的准确性。


光致发光量子效率 (PLQY)

反映材料或薄膜辐射复合的效率,与非辐射复合损失呈负相关。

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S54NiOx/Me-4PACz/钙钛矿样品的 PLQY显着低于纯钙钛矿薄膜,再次确认了严重的接口复合。而 NiOx/S-BA-SAM/钙钛矿样品表现出更高的 PLQY (0.247%),与 QFLS 结果一致,证明新型 SAM 有效抑制了接口复合


原子力显微镜 (KPFM)

量测表面电势差 (CPD),分析材料功函数和接口的能级排列、均匀性及缺陷分布。

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1h-oNiOx/SAM 表面KPFM影像与 CPD 分布图显示,S-BA-SAM 处理的NiOx表面 CPD分布更窄,表明SAM层更均匀。

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4a-e钙钛矿埋入接口KPFM分析也表明S-BA-SAM处理的接口CPD分布FWHM更窄,且光照老化后电势变化小,说明接口更均匀稳定。


X光电子能谱 (XPS)

分析材料表面元素组成和化学态,特别用于研究 SAM NiOx之间的相互作用和NiOx的化学变化。

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1gNi 2p3/2 XPS 谱线显示,S-BA-SAM 处理的NiOx相比 Me-4PACz 处理的峰位有向低结合能偏移,表明S-BA-SAMNiOx之间存在更强的电荷转移和相互作用。


掠角入射 X 射线绕射 (GIXRD) / 广角 X 射线散射 (GIWAXS)

分析薄膜的晶体结构、晶粒取向和应力。

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3i-kGIWAXS 谱图显示,对照组薄膜出现晶格畸变引起的衍射峰分裂,而 S-BA-SAM 薄膜则无此现象,表明应力较小,S-BA-SAM 有利于钙钛矿薄膜形成更佳的 (100) 取向,有利于载流子传输。


电感耦合电浆体发射光谱 (ICP-OES)

量测溶液中金属元素的含量,用于评估 SAM NiOx薄膜的腐蚀程度。

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S6:将 ITO/NiOx 薄膜浸泡在不同 SAM 溶液后,使用 S-BA-SAM 溶液浸泡的薄膜释放的镍含量 (29 ug/L) 远低于使用 Me-4PACz 溶液的薄膜 (87 ug/L),直接证实了新型 S-BA-SAM 显着减轻了对NiOx层的腐蚀作用。


密度泛函理论 (DFT) 与分子动力学 (MD) 模拟

深入理解 SAM 分子与NiOx表面之间的吸附机制、结合能、电荷分布、能级以及 SAM 形成过程中的分子行为。

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1a-f DFT 计算得到的 SAM 分子在NiOx表面(包括含氧空位表面)的吸附构型、差分电荷密度和电子局域函数 (ELF) 图。计算结果表明 S-BA NiOx之间有更强的结合能,特别是苯并噻吩头基与 Ni 之间存在额外的相互作用。图S1644 MD 模拟则展示了 SAM 分子在表面的分布均匀性,理论上支持了新型 SAM 有助于形成均匀薄膜的假设。


其他表征

扫描电子显微镜 (SEM) 观察薄膜表面和器件截面形貌,评估晶粒大小、形状、缺陷以及老化后的形貌变化。(图 6b、图 3e-h

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光致发光分布 (PL Mapping) 提供薄膜 PL 强度的空间分布,直观显示薄膜的均匀性和缺陷区域。(如图S50

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时间解析光致发光 (TRPL) 量测光生载流子的寿命,反映体相或接口的复合速率。S-BA-SAM 处理的薄膜载流子寿命更长(图 5j

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紫外光电子能谱 (UPS) 确定材料的功函数和能级位置,有助于构建能级图,理解电荷传输。(图 4f

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空间电荷限制电流 (SCLC) 分析: 评估空穴传输层的载流子迁移率和密度,S-BA-SAM 处理后空穴密度降低。(图S39

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电化学阻抗谱 (EIS) 分析器件内部的电荷传输和复合阻抗。S-BA-SAM 器件表现出更高的复合阻抗。(图 5i

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接触角量测: 评估钙钛矿前驱液在 SAM 处理表面的润湿性,影响薄膜的成核和生长。(图S34

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原位 (In-situ) UV-Vis 吸收谱和 PL 谱: 监测钙钛矿薄膜在旋涂过程中的成核和结晶动力学(图 2b, c

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飞行时间二次离子质谱 (TOF-SIMS) 分析器件结构中各元素的深度分布,用于研究光照老化过程中元素的迁移。(图S33

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傅里叶变换红外光谱 (FTIR) 分析 SAM 分子与钙钛矿前驱体中 FAI 分子之间的相互作用(如图 2a

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结论

研究团队开发了一种新型弱酸性硼酸功能化自组装单分子层(S-BA-SAM),用于改质全钙钛矿迭层太阳能电池中宽能隙子电池的NiOx电洞传输层接口。

主要研究成果如下:

界面稳定性提升S-BA-SAMNiOx形成稳固键结,有效抑制NiOx腐蚀,性能优于传统磷酸基SAMs,并促进在NiOx表面的均匀成膜,改善界面形态和覆盖率。

薄膜品质优化:接口改质显着优化钙钛矿薄膜结晶过程,促进均匀卤化物分布抑制光照相分离,大幅提升薄膜质量和光稳定性。

载流子传输改善:优化后的接口特性加速载流子传输,减少非辐射复合损失,有效延长载流子寿命。

效率显着提升:采用优化接口层的宽能隙单结电池,光电转换效率从18.9%提升至20.1%。整合后的两端迭层太阳能电池更创下28.5% PCE的优异纪录

长期稳定性:得益于宽能隙子电池的改善,迭层器件展现运行稳定性,在1 sun最大功率点追踪500小时后,仍维持初始效率90%以上



文献参考自nature communications_DOI: 10.1038/s41467-025-59515-6

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